Высокое соотношение сигнал/шум и высокая точность разрешения - предпочтительно для халькогенидных сложенных ячеек*.
Системы тестирования квантовой эффективности
Система измерения квантовой эффективности
В системе используются высокоэффективные светоприемные и стабильные измерительные модули, обеспечивающие высокую интенсивность монохроматического света с отличным соотношением сигнал/шум и аппаратные средства с высоким разрешением для захвата сигналов для быстрых и точных измерений.
обеспечит следующие преимущества для вашего исследования:
- Измерение эквалайзера в режиме переменного тока
- Маленькое пятно (от 50 до 1000 мкм)
- Большой динамический диапазон (>8-й силы из 10)
- Автоматическое/повторное сканирование со смещением напряжения
-
Автоматический анализ EQE/SR
Обзор
Характеристики
Примеры программного обеспечения/тестирования
Обзор
Данные спектрального отклика могут быть использованы для анализа энергетического зазора, оптических потерь, электрических потерь, качества спая, диффузионной длины, эффективности сбора носителей, температурного коэффициента и условий согласования тока многопереходных солнечных элементов, что поможет понять характеристики фотоэлектрических устройств и солнечных элементов, а также обеспечит основу для дальнейшего совершенствования процесса подготовки. Это обеспечит основу для дальнейшего совершенствования процесса подготовки. В системе используется высокоэффективный модуль сбора и стабилизации света для обеспечения высокой интенсивности монохроматического света с оптимальным соотношением сигнал/шум и высоким разрешением сбора сигнала для быстрых и точных измерений.
- Конфигурация эталонных детекторов для калибровки и измерения спектрального отклика / квантовой эффективности
- Многорешетчатый монолитный светомер Черни-Тернера с низким уровнем рассеянного света <10-5, высокой повторяемостью и стабильностью, обеспечивающий высокую чистоту монохроматического света
- Встроенный спектр AM1.5G или ввод данных от клиента и расчет плотности тока короткого замыкания в полном спектре
- Измерительное устройство высокого разрешения с низким уровнем шума сигнала захватывает активные сигналы и обеспечивает точные и стабильные сигналы без необходимости сложных настроек усилителя блокировки
- Результаты измерений для
- Измерение энергетического зазора материалов солнечных элементов, предоставляя клиентам важные параметры материала
- Включает режим прямого измерения расхода, модульную интеграцию в систему, без необходимости демонтажа оборудования
- Настраиваемое напряжение для модуляции структур с уличным уровнем, позволяющее моделировать оптический отклик при различных условиях изгиба энергетической полосы. Эффективность сбора носителей может быть измерена
- Условия прямого/обратного смещения для оценки
- Настраиваемая функция поляризации для оценки некоторых типов солнечных элементов с фотовозбуждаемой нелинейностью (опция)
- Оценка коэффициента сбора перевозчика (необязательно)
- Температурные коэффициенты могут быть исследованы с помощью испытательной установки с изменяемой температурой, а параметры, относящиеся к энергии энергетического зазора и току короткого замыкания Jsc, могут быть предоставлены (опционально).
- Исследование по оценке светового старения или ослабления света (LID) (опционально)
- Модуль измерения отражательной способности может использоваться для обеспечения измерений внутренней квантовой эффективности (опционально), или клиент может ввести данные отражательной способности для расчета внутренней квантовой эффективности
- Измерение характеристических кривых ток-напряжение (I-V) и анализ соответствующих параметров (опционально)
- Индивидуальное расширение аппаратного обеспечения для других приложений заказчика (опция)
Диаграмма архитектуры системы
Физический вид системы
Характеристики
| Проекты | Спецификация |
| Системы источников света | (1) Диапазон длин волн: от 300 до 1100 нм (другие варианты: 200 нм~400 нм, 1100 нм~1400 нм, 400~2000 нм или до 3000 нм) |
| (2) Ксенон или другие источники света; с высокоэффективными модулями сбора света | |
| (3) Оптическая стабильность: 2.0% | |
| (4) Точная регулировка положения источника света по трем осям | |
| Системы с одним оптическим выходом | (1) Фокусное расстояние (моно): ≧ 110 мм |
| (2) Охват длины волны решетки: 300~1100 нм (или другие диапазоны длин волн) | |
| (3) Относительная диафрагма (ApertureRatios): f/3.9 | |
| (4) Разрешение по длине волны: 1, 2, 5 и 10 нм (система по умолчанию) или другое по индивидуальному заказу | |
| (5) Интервал сканирования: 0,1 - 500 нм, регулируемый | |
| (6) Корректность длины волны: ±0,6 нм | |
| Оптические системы формирования изображений | (1) С модулем микроскопа, пятно диаметром до ~100 м; регулируемое или другое на заказ |
| (2) Разрешение камеры: ≧ 18 М пикселей; отдельный пиксель ≦ 1,25 мкм | |
| (3) Общее увеличение: 4-50X; опция: 100X | |
| (4) Разрешение изображения: 3 микрона или более, также может использоваться с различными объективами для больших образцов | |
| Автоматическая система фильтрации | (1) Можно разместить до 5 фильтров |
| (2) Автоматическое управление или ручное управление | |
| Унифицированные световые чопперы | (1) Частотный диапазон 4~200 Гц / 20~2000 КГц / 200~10 КГц |
| (2) Разрешение частоты до 0,01 Гц, стабильность < ± 0,05 Гц | |
| Платформы для измерения образцов | (1) Комплект ступеней ручного зонда для образца |
| (2) Минимум 4 держателя зондов на платформе | |
| (3) Размер образца: 5 мм2 ~ > 300 см2 | |
| (4) Держатели трехосевых датчиков точной настройки: два комплекта, разрешение трехосевого датчика 2 мкм, максимальный ход трехосевого датчика 12 мм | |
| (5) Держатель зонда: магнитное и изолированное основание | |
| (6) Коробка с вольфрамовыми зондами: размер зонда в соответствии с функцией держателя зонда и вольфрамовый наконечник 200 мкм | |
| (7) Другие образцы столов или платформы, изготовленные по индивидуальному заказу | |
| Калибровочные детекторы | Si (200~1100нм) |
| Другие варианты: InGaAs (1000~2000 нм), Ge (900~1800 нм) или другие, изготовленные на заказ, также с привлечением сторонних производителей. | |
| Прослеживаемая сертификация | |
| Системы сбора измерительных данных | (1) Режим переменного тока, режим постоянного тока или режим переменного и постоянного тока плюс смещение, режим сбора поляризации |
| (2) Минимальное разрешение по току: 10fA | |
| (3) Динамический диапазон: :>100 дБ | |
| (4) Максимальное усиление: 108 | |
| (5) Диапазон выходного напряжения смещения: 0~±10В | |
| (6) Постоянные времени: 10 мс~20 кс | |
| (7) С автоматическим усилением без автоматической регулировки фазы | |
| (8) Интерфейс: RS232 и GPIB (IEEE488) | |
| (9) Разрешение измерения фазы: 0,01o | |
| (10) Стабильность: <6ppm/°C | |
| (11) Смещение: X.Y.R может быть смещено до полного хода +/-105% | |
| (12) Частота дискретизации: >500/с с буфером памяти на 8000 точек | |
| Измерительное программное обеспечение | (1) Коррекция абсолютной силы света |
| (2) Измерения спектрального отклика / внешней квантовой эффективности | |
| (3) Автоматический расчет плотности тока короткого замыкания (Jsc) в режиме реального времени | |
| (4) Автоматический расчет токов короткого замыкания с одной длиной волны | |
| (5) Импорт внешнего отражения для расчета внутренней квантовой эффективности (IQE) | |
| (6) Расчет энергетического зазора для материалов солнечных элементов | |
| (7) Дополнительно: наблюдение в реальном времени изображений измерений образца; функция сохранения изображений | |
| (8) с функцией базы данных | |
| (9) Формат сохранения данных: txt и jpg | |
| (10) Дополнительно: измерение кривой I-V при освещении и расчет параметров солнечного элемента, включая | |
| Voc, Isc, Jsc, Vmax, Imax, Pmax, коэффициент заполнения (FF), КПД, Rs, Rsh. нет | |
| Кривая I-V для освещения дает ток насыщения (JO) и идеальный коэффициент (n) для качества интерфейса энергетического зазора | |
| Экранированные скрытые коробки | (1) с открывающейся подвижной дверью |
| (2) Электромагнитное экранирование | |
| Источник оптического смещения (опция) | (1) Одно- или двухполосные галогенные или 収光二极管 (светодиодные) лампы; регулируемая интенсивность |
| (2) Оптоволоконный выход света, также с другими световыми путями | |
| Другие варианты | (1) Внутренний модуль измерения квантовой эффективности |
| (2) Измерение I-V кривых при определенном монохроматическом освещении | |
| (3) Кривые гистерезиса I-V могут быть измерены в диапазонах сканирования прямого и обратного смещения | |
(4) Автоматическая сканирующая платформа XY |
Примеры программного обеспечения/тестирования
Тестовое программное обеспечение
EQE Spectrum - Типы солнечных батарей
Probe and View @ EQE Measurement
Смежные приложения