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光電子デバイス用レーザー走査型蛍光寿命(強度)イメージング装置

カルコゲナイドキャリアダイナミクスの解析* レーザー走査型蛍光寿命(強度)イメージングシステム 蛍光寿命(強度)イメージングシステムは、半導体マイクロスケールおよびナノスケールのサンプル、光起電力変換材料、光触媒材料、バイオ [...]...

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蛍光寿命測定におけるいくつかの重要な問題

蛍光寿命検出におけるいくつかの重要な問題 中国科学院大連化学物理研究所 金盛曄 蛍光寿命検出は、物質の励起状態寿命とキャリアダイナミクス過程を決定するために一般的に使用される技術の一つである。物質の励起状態寿命とキャリアダイナミクスを判断するためには、蛍光寿命検出技術をいかに適切に選択・使用するか、また蛍光寿命ダイナミクスをいかに正しく収集・分解するかが重要である。

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