微纳加工 | 光刻-光学光刻篇

在纳和微加技术的背景下,光刻于在基板表上应图案,以便随后将其转移到下的基板上。

光学光刻使用光将图案从母版(光掩模)复制到基板上。这个过程与传统的负⽚摄影复制非常相似。将光敏聚合物(光刻胶)涂敷到基材上,然后通过光掩模曝光。曝光的光刻胶发生化学反应,导致溶解度发生变化。随后将其用于溶解部分光刻胶,留下图案化的光刻胶。有几种不同的光刻技术,例如接触、投影、浸没和⼲涉,以及基于紫外、深紫外、极紫外和X射线的方法。

非光学光刻涉及电子束、离子束或机械力以在抗蚀剂膜上创建图案。它们是电子束光刻(EBL)、聚焦离子束(FIB)光刻和纳米压印光刻(NIL)。以下部分将简要介绍这些技术及其局限性。

光源

紫外光源通常于光刻。这不仅是因为短波⻓导致更好的图像分辨率,还因为对紫外光敏感的光化学物质的⼴泛使。汞蒸灯仍然是光刻中的主要紫外光源,其发射线分别为405nm(h线)、365nm(i线)和254nm。其中,使最多的是365nm(i-line),并且已经针对该光谱范围开发了许多光刻胶。需求为了获得越来越的分辨率,⼈们开始使深紫外光源,例如248和193nm的准分激光器。前正在开发13.5nm的EUV光源。在光刻应中,照明强度必须在整个基板表上保持致。斯光束是不可接受的,需要消除来激光源的散斑图案。因此,花费量精力将光束整形为平坦、均匀的轮廓。

光刻胶

光刻胶是溶剂中的光敏有机聚合物,最常通过旋涂施加到基材上。光刻胶由光敏化合物、树脂和溶剂组成。溶剂的的只是为了让光刻胶被旋涂。在旋涂步骤之后,通过加热光刻胶去除溶剂。树脂是于后续图案转移的光刻胶的结构成分。在i-line(365nm)光刻胶中,最常的树脂是酚醛树脂(属于酚醛系列)。光活性化合物是重氮萘醌(DNQ)。暴露于紫外线后,DNQ会释放出种光酸,从增加树脂的溶解度。这种类型的光刻胶也被称为正性光刻胶,因为曝光的区域最终会被去除,未曝光的区域将保留下来。溶解度的动态范围可以于三个数量级并且线性,这就是光刻技术具有出对⽐度的原因。

曝光量通常以毫焦⽿每平方厘米(mJ/cm2)为单位进行测量。这是以mW/cm2为单位的照明强度乘以曝光时间。典型剂量值范围为50⾄500mJ/cm2。

一种常⻅的变体是负性光刻胶。这些光刻胶具有相反的行为,其中光刻胶的溶解度在曝光后降低。

光掩膜

光掩模是透明的玻璃基板,在其上形成金属图案以阻挡光的传输。这种金属通常是铬,因为它对玻璃具有出色的附着力,并且对紫外线波⻓非常不透明。标准光刻工艺用于创建光掩模,包括光刻胶的应用、曝光和图案转移到下面的铬层。

 

然而,对于曝光,而不是光掩模,扫描工具,如激光使用扫描仪或电子束扫描仪。紫外激光源(例如HeCd或ArF)用于光栅扫描整个表面的激光点,同时通过包含光掩模设计的软件驱动的快⻔打开或关闭激光束。假设HeCd激光器的波⻓为325nm,则可以实现的最小光斑尺⼨约为300nm。诸如线之类的二元特征可能需要该点的多个宽度。因此,通常宣传的激光写入光掩模的限制约为1毫米。当需要更小的特征时使用电子束写入。

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