Система микроскопа ультрабыстрой переходной абсорбции Микроскоп сверхбыстрой переходной абсорбции

[Описание системы]

Система визуализации сверхбыстрой переходной абсорбционной микроскопии UM100: Эта система разработана для объединения микроскопа и фемтосекундного лазера для обнаружения фотовозбужденных переходных спектров поглощения, кинетических процессов и визуализации переходных спектров поглощения микро- и нано-образцов. Система имеет как сверхбыстрое временное разрешение (фемтосекундное), так и пространственное разрешение <1um.

UM100 - это универсальная система контроля, включающая оптическую систему с насосным зондом, оптические и электронные аксессуары, оптическую линию задержки и компьютер для сбора данных, а также соответствующее программное обеспечение.

Технические преимущества - индивидуализация

Модуль расширения микрозоны сверхбыстрой переходной абсорбции                                                              

Модуль расширения сверхбыстрого переходного поглощения в среднем инфракрасном диапазоне

Модуль оснащен охлаждаемым жидким азотом одноточечным детектором DMCT и монохроматором среднего инфракрасного диапазона. Спектральное детектирование возможно в диапазоне: 2 мкм-14 мкм, переходные спектры могут быть получены из кинетики одной точки и спектральных сканов, и могут быть интегрированы с системами сверхбыстрой переходной абсорбционной спектроскопии.

Программное обеспечение для сбора данных Программное обеспечение для анализа данных

Система оснащена профессиональным программным обеспечением для сбора данных, которое может завершить сбор данных и настройку параметров различных режимов образцов. Система оснащена профессиональным программным обеспечением для анализа данных, которое может выполнять различные виды наблюдения за данными и анализа образцов.

Реализация 2D и 3D данных UC Egyptian mode, кинетические кривые наблюдаются в реальном времени. Множество мощных функций, таких как подгонка кинетических кривых, коррекция временного нуля, обработка гомогенизации и т.д.

Пользовательские функции могут быть добавлены в соответствии с требованиями пользователя Пользовательские функции могут быть добавлены в соответствии с требованиями пользователя

• Совместимость с несколькими режимами обнаружения: режим отражения/трансиллюминации микрообласти, режим визуализации лазерного сканирования (передача)
• Спектральный детектор: режим микрообласти: спектрометр видимого/ближнего инфракрасного диапазона с высокоскоростным КМОП-детектором
• Режим визуализации лазерного сканирования: ПМТ + усилитель с блокировкой (можно добавить несколько каналов обнаружения)
• Частота сбора данных: 10 КГц в режиме микрозон, до 500 КГц в режиме лазерного сканирования изображения
• Спектральный диапазон обнаружения: 380 - 1600 нм
• Высокоскоростные оптические линии задержки: оптические линии задержки до 400 мм/с, точность 0,1 микрон
• Временное окно обнаружения: 8 нс
• Разрешение изображения при лазерном сканировании: до 4096 x 4096 точек пикселей
• Диапазон визуализации лазерного сканирования: точный диапазон зависит от объектива, используемого пользователем
• Пространственное разрешение: ≤ 1um (точный диапазон зависит от используемого пользователем объектива)
• Функция временной реакции прибора IRF: 1,5 раза больше ширины лазерного импульса
• Чувствительность обнаружения: ≦0,2mOD
• Микроскопы: совместимы со многими марками и моделями микроскопов, могут быть настроены в соответствии с потребностями пользователя
• Программное обеспечение для сбора данных: режим сбора данных 2D/3D для наблюдения и анализа собранных данных в режиме реального времени.
• Программное обеспечение для анализа данных: подгонка кинетических кривых, коррекция временного нуля, обработка гомогенизации и многие другие мощные функции. (Пользовательские функции могут быть добавлены в соответствии с требованиями пользователя)
• Бесплатное пожизненное техническое обслуживание (за исключением замены аппаратных частей) и профессиональная техническая поддержка Доступны места для долгосрочного профессионального обучения